一、通信测试技术发展趋势（论文文献综述）
戴涧峰,陈逢田,李培华,王志勇,陆文高,李立[1]（2021）在《我国小卫星综合测试技术发展与展望》文中指出对我国小卫星综合测试技术的综合测试系统通用化、自动化测试、初级智能化测试的3个发展阶段进行了简要回顾。从系统层面及单项关键技术出发,对我国小卫星综合测试技术的发展现状进行了重点介绍和分析,例如:多级分布式的自动化测试系统架构、智能批量测试技术、基于星载测试的快速地面测试技术等。结合小卫星系统复杂化、研制模式批量化的发展趋势,对小卫星综合测试技术发展方向提出了应用差异化的测试模式、推进大规模批量化生产测试技术、依靠计算机技术提升综合测试智能化水平等建议。
马润,王圣杰,华荣锦,哈欣楠,温兴贤,孙毅,谷家训[2]（2021）在《电力物联网边缘物联代理的一致性测试系统研究》文中认为边缘物联代理是对各类感知层设备终端进行统一接入、数据解析和实时计算的一种智能网关装置。为确保电力物联网中数据传输的一致性和规范性,需要对边缘物联代理中的一致性测试技术进行研究。文章首先概述了边缘物联代理的发展历程和系统架构;其次分析了一致性测试的关键技术及其在电力物联网网关中的发展现状,并介绍了面向边缘物联代理的一致性测试技术应用,对其发展趋势进行了展望;最后总结了当前应用过程中出现的问题,为后续边缘物联代理中的一致性测试技术的深入研究提供有益的参考。
樊瑞瑞[3]（2021）在《通用化单元测试设备的设计与实现》文中研究说明航空航天飞行试验中需要通过中间装置来获取飞行器在飞行过程中的指标和环境参数,因此中间装置的可靠性对于各种飞行器的设计和生产至关重要。由于以往的自动测试设备大多数是专机专用,设计生产成本高。本文设计了一的种通用化单元测试设备,能够模拟中间装置各种控制和接口信号以及多种工作模式,为中间装置的自检提供所需的多路模拟和数字信号。本文结合国内外自动测试设备的研究现状和技术发展趋势,对通用化单元测试设备的总体方案、标准化通信协议和设备构成进行了设计。通用化单元测试设备由地面单元测试台和电源负载测试台两部分构成。地面单元测试台实现指令信号的输出、RS-422和UART信号的输出和接收、PCM码的解码以及实现对被测设备1553B总线接口的测试功能。电源负载测试台实现的功能包括为体系终端的设备提供+28V电源,以及等效被测终端系统内的设备,为终端设备提供模拟负载,实现终端设备的用电监测,并且与地面单元测试台进行数据交互。地面单元测试台和电源负载台按照功能模块进行板卡分配和电路设计。选择FPGA和STM32作为主控芯片,与外围电路配合完成命令执行和数据处理,从而达到任务要求的测试目的。地面单元测试台和电源负载测试台之间通过RS-422通信接口完成异步串行通信,硬件上采用外接电缆的方式,通过专用接插件完成信号的传递。通过搭建平台对通用化单元测试设备进行整机测试与分析,并且针对设备的可靠性和测量精度展开了分析与总结,验证了设计的可行性。
王国斌[4]（2021）在《LTE核心网协议安全缺陷检测技术研究》文中研究指明随着LTE网络的快速发展以及在全球范围的部署,LTE网络的安全性越来越被人们关注。近几年,越来越多的LTE网络的安全漏洞被发现,这些安全漏洞将严重影响到人们的正常生活。LTE核心网是LTE网络很重要的组成部分之一,LTE网络绝大多数功能都有LTE核心网实现,而核心网协议实现的安全性直接决定了核心网的安全性能。因此,本文将研究LTE核心网协议安全性检测技术。本文主要研究内容如下:1.针对传统模糊测试技术效率低的缺点,提出了字段筛选策略,通过对协议字段集合进行初步的筛选,从而只对剩下的字段进行测试大大调高了模糊测试效率;针对传统模糊测试生成的测试样例低效的缺点,提出了数据包修复策略,通过对测试样例进行最少必要的修复,从而使得测试样例能够覆盖目标程序更多的执行路径,从而挖掘更多潜在的漏洞;针对传统模糊测试技术未考虑协议状态转移的缺点,提出了全状态遍历策略,通过沿着协议状态机对所有的状态都进行测试,从而能够发现更多潜在的安全问题。2.结合上述提出的三种优化策略,设计并实现了了 LTE核心网协议安全缺陷检测系统,系统主要包括变异模块、数据包发送、字段筛选模块、数据包修复模块、状态转移模块、监视模块以及日志模块。并在LTE仿真环境OAI上对GTPv2和Diameter协议进行了测试。3.最后对实验结果进行了统计与分析,发现了 GTPv2和Diameter协议在实现方面的一些漏洞,同时也对本文提出的三种优化策略和传统策略的结果进行了对比。
陈晨[5]（2021）在《面向嵌入式设备的自动化漏洞挖掘关键技术研究》文中研究说明物联网和通信技术的快速发展,让嵌入式设备更多地应用于生活、工业、国防和医疗等各个方面。嵌入式设备通常会与外部物理世界进行交互,这将导致巨大的安全风险,攻击者可以通过嵌入式设备外部通信接口入侵和破坏设备。很多嵌入式设备曝出了安全漏洞,这些漏洞被恶意利用轻则造成设备工作异常、功能受控、财产损失,重则对人身安全、公共安全、政治安全带来不同程度的威胁。因此,嵌入式系统安全应该得到更多重视,研究针对嵌入式设备的自动化漏洞挖掘技术也变得尤为重要。嵌入式设备的自动化漏洞挖掘主要以模糊测试为主。模糊测试的目标是通过测试来发现更多的软件崩溃。该技术既能用于传统软件的漏洞挖掘,也可以用于嵌入式设备固件的漏洞挖掘。为了提高测试效率,当前模糊测试使用了代码插桩技术动态获取程序的运行时信息,通过分析这些信息来指导测试过程,但对于资源有限的嵌入式设备,当前插桩技术很难有效使用。再者,模糊测试中高质量样本生成效率不高也是制约嵌入式设备漏洞挖掘的因素之一。本文从代码插桩和模糊测试两个方面开展相关研究。具体内容如下:1.基于ptrace和静态分析的固件动态插桩技术动态插桩技术通过插入检测代码实现对程序的运行时分析。但该技术应用于嵌入式设备时面临两个方面的问题:一是由于传统动态插桩技术需要依赖许多操作系统接口和强大的硬件资源支持,多数嵌入式设备因软硬件资源有限难以满足;二是传统动态插桩技术因实时分析造成极大的性能损失。本文提出了一种面向嵌入式设备的通用动态插桩技术,其使用ptrace系统调用对固件的运行过程进行控制,通过静态分析技术将动态分析阶段的部分功能转移到执行之前,以降低性能损失。实验验证了该技术在插桩点小于400个时比Pin、Valgrind和DynamoRIO等传统插桩工具造成的性能损失更低。该动态插桩技术简单通用,可有效应用于插桩数量有限的嵌入式设备。2.基于上下文维护代码分离的固件静态插桩技术面向嵌入式设备的动态插桩技术由于其插桩代码和原有代码运行在不同进程中,进程通信带来的开销会极大地降低分析效率。本文提出了一种静态插桩方法,利用上下文维护代码分离技术重新布局插桩代码和原有代码,在保证原有程序逻辑不变的情况下,将插桩代码和原有代码合并到同一进程空间,并直接写入二进制文件中。在对8个测试软件的插桩实验中,使用该技术插桩造成的代码膨胀率仅占Dyninst的3.3%～15.4%,插桩造成的时间损耗占Dyninst、DynamoRIO、Valgrind和Dyninst的0.8%～63.7%,在对实际嵌入式设备测试时没有产生明显因插桩造成的性能损失。该技术更适合对软硬件资源有限和实时性要求较高的嵌入式设备进行运行时分析。3.基于烟花算法的覆盖率导向型模糊测试技术传统的模糊测试技术通过提高边覆盖率来增加漏洞触发的概率,由于对执行边的感知能力不足导致生成的测试样本质量不高。针对该问题,本文提出了一种基于烟花算法的覆盖率导向型模糊测试技术,该技术使用格式约束技术和烟花算法来平衡边的执行强度,为执行较少的边分配更多的计算资源,提高执行新边的概率。对8款软件的测试结果表明,使用该技术进行测试的边覆盖率比Peach、AFL和AFLFast高2.0%～67.8%,触发漏洞的数量为1.3～4倍。该技术和固件插桩技术结合后,可以对嵌入式设备进行高效自动化漏洞挖掘。4.基于粒子群优化的目标导向型模糊测试技术当前目标导向型模糊测试技术使用的样本生成算法存在导向性不足和样本穿透力弱的问题。本文提出一种基于粒子群优化的目标导向型模糊测试技术,通过学习高质量样本的导向特征并将其传递给新的样本,结合格式约束技术提高生成样本的穿透能力,快速引导测试朝向脆弱点位置执行。实验结果表明PSOFuzzer生成的高质量样本数量比AFLGo和Sidewinder高1.1～47.8倍。触发漏洞的概率分别比AFLGo和Sidewinder高79%和423%。结合固件静态插桩技术,该方法可有效应用于嵌入式设备漏洞挖掘与验证。
张玮琦[6]（2021）在《一种通信装备Built-In Test技术研究与实现》文中提出信息技术与半导体工艺的日益发展,在提高装备性能的同时也使其自身复杂性不断增加。为保证装备维修性、可靠性、可用性以及战备完好性等指标,故障诊断测试也历经了由简单到先进、由外部到机内的发展阶段,可测性设计也成为装备设计初期需注重的关键环节。基于上述背景,本文对一种通信装备的机内测试技术进行研究与实现,设计了一种面向通信装备故障诊断测试的BIT（Built-In Test）硬件平台。主要研究内容如下:1.根据GJB2547A-2012中对机内测试的规范要求,以及对通信装备的各模块电路及功能进行分析,建立起通信装备的机内测试系统的基本模型。针对不同模块电气特性以及待测信号的参数区别,对机内测试系统的测试点进行选取,并选择相应的测试参数以及测试方法。2.基于IEEE 1149.5中的模块测试及维护总线（Module Testing and Maintenance bus,MTM bus）,对BIT测试系统架构进行设计,实现主系统与分级测试系统单元之间的广播通信、主系统与上位机的通信以及故障显示等功能。3.针对测试模型中所得的无源测试点的测试需求,设计了射频BIT和中频BIT电路。考虑到BIT的约束条件,对单量程宽频带的无源测试结构进行设计,并验证其可行性。4.针对测试模型中所得的有源测试点需求,基于IEEE 1149.1协议标准,设计了数字BIT分系统,实现了对数字芯片的边界扫描测试功能。最后使用标准信号源模拟通信装备中待测测试点处信号,通过上位机软件下发测试命令,对设计的测试平台性能指标进行模拟测试验证。
邢润国[7]（2021）在《基于机器学习模型的智能变电站自动测试方案及智能分析应用研究》文中研究表明如今,我国电网架构的发展日益趋向成熟,网架结构更加稳固,信息传递更加迅速,控制方法更加智能。智能变电站的站内设备在数据采集、控制检测、智能调节等方面的优化,实现了智能站数字化、网络化、标准化发展。目前无防护的就地化保护技术配合智能变电站内的智能设备使用,存在仪器一体化设计、参数设置复杂、调试费时费力等缺点。同时智能化分析甄别系统运行状态存在不稳定性,需要投入大量的精力进行调试。基于目前存在的问题,本文综合就地化保护装置及技术等内容,分析和研究了工厂化自动测试平台方案,并探讨分析了自动继电保护测试仪应用实例。以线路保护为例,着重分析了部分线路保护的保护工作原理,定义了线路保护的保护逻辑中的输入输出。选取所需参数作为训练样本,采用机器算法智能分析结果和自动调参。论文主要工作如下:概述了课题的研究背景和意义、变电站的发展、智能变电站继电保护自动测试技术研究现状以及就地化保护的发展现状;介绍了智能变电站的二次系统三层设备、二次系统通信网络、通信标准以及就地化保护装置相关内容。详述了智能变电站的通信标准、基本概念以及二次系统架构;分析了就地化保护装置的概念以及特点,针对其特点着重讨论了部分线路保护的保护工作原理,并设计了工厂化自动测试平台方案。平台的设计贯穿系统建模、仿真计算、文件配置等环节,并设计了相对应的模块。全文详述了各模块所需具备的功能。以IEC 61850通信规约为基础,研究介绍了更加全面的保护测试技术方法,解决了复杂耗时的继电保护装置测试技术、保护装置标准兼容性不足的问题。其次综合基于IEC61850标准的测试方法,介绍和研究自动化继电保护测试仪的自动测试软件。为进一步提升自动测试技术智能化的水平,利用LightGBM、XGBoost算法对测试结果进行智能分析。在多个保护逻辑的测试逻辑下,定义了软压板参数等共8个输入状态变量,以及零序差动误动等共10种不同的故障类型作为输出结果。结合定义的输入和输出参数选出972组数据完成了样本数据集,通过LightGBM、XGBoost训练模型完成数据训练并校验数据。结果表明LightGBM训练模型可以更好的完成测试结果的故障类型判断,提升了变电站自动测试技术的智能化水平。
陈桂棠[8]（2021）在《继电保护功能自动化测试系统数据库设计与应用》文中认为随着继电保护技术的飞速发展,新型继电保护装置,特别是智能型继电保护装置,集保护、测量、控制、通信于一体,已成为了一个完整而复杂的有机整体。同时,由于继电保护系统的高可靠性要求,必须要通过大量完整有效的试验,以保证其质量。然而低效率和低质量的手工测试方式已经远远无法满足测试的需求,继电保护测试技术存在自动化率低、测试覆盖率低、自动化通用性差、对自动化测试管理的不够重视等缺点。因此,继电保护自动化测试系统的研究对于确保继电保护装置的工作可靠性、保障电网安全运行具有重大的意义。数据库系统作为一个数据存储和数据管理的工具,是当今各大软件系统的核心,在继电保护自动测试系统中也是十分关键且必不可少的一部分。本文主要完成继电保护功能自动化测试系统的数据库部分的设计。首先对继电保护自动测试系统的总体框架进行介绍,根据关系数据库的设计步骤完成继电保护自动测试系统数据库的总体设计。其次,明确测试用例在自动测试系统中不可或缺的作用,并随之制定调研计划,对相关部门和人员进行需求调研,完成数据库需求分析。接着,将数据抽象出来,形成概念模型,建立整个数据库的实体关系图,即系统E-R图,根据E-R图构建数据库的数据模型,得出关系模型。最后进行数据库的物理设计,在SQL Server 2008上实现数据库设计。在基本实现数据库的设计后,进行数据库的试运行和测试,经过大量的应用证明结果显示,最终完成的继电保护功能自动化测试系统能够极大的提高测试质量和测试效率,以及自动化测试管理水平,可以满足继电保护功能测试的高效率和高准确性需求。
刘安康[9]（2021）在《基于ATE的SoC芯片测试系统开发与应用》文中进行了进一步梳理集成电路制造工艺的不断提高,推动着芯片设计的飞速发展,使得芯片内部的集成度越来越高、接口的通信速度越来越快。但同时,复杂的电路对测试覆盖率的要求也在增加,尽管IP（Intellectual Property）复用的设计技术能加快SoC的开发过程,但随着单个芯片上集成数目的增多,SoC的规模、复杂度直线上升,导致SoC测试面临着巨大的挑战。为了保证芯片的质量必须加大测试覆盖率;而另一方面为了控制芯片的成本,又不能无限制的増加测试时间。因此,如何在不减少测试覆盖率的前提下减少测试时间,成为了各大芯片设计公司以及制造企业的一个大问题。目前,国际上大多数半导体制造厂家所采用的集成电路测试方式都是通过自动测试设备（Automatic Test Equipment）完成,基于ATE的芯片测试不仅具有测试效率高、可移植性强、故障覆盖率高、通用性好的优点,还具有实际的应用意义。本论文以公司自主研发的一款SoC芯片为对象,对其测试方法进行研究。论文主要工作内容包括:首先,对大规模集成电路芯片测试的意义、方法以及目前面临的问题进行了研究和分析。其次,对被测SoC芯片的功能及框架进行了研究,同时对V93000型ATE测试仪进行了介绍,详细阐述了ATE测试工程开发的各个流程及方法。最后,讨论面向SoC芯片的具体测试方案和实现过程。根据测试平台的特点,利用芯片自身的结构和测试理论相结合的方法,对其动、静态功耗以及芯片的主要接口进行了测试研究与实现。并给出了实际的测试结果。
徐景辉,徐慧庆,谢天乐,万凯[10]（2021）在《工业4.0条件下的测试系统》文中研究指明通过回顾现代科学技术和工业化发展,阐述测试测量技术和测试系统与工业化发展的联系,结合未来工业技术发展的趋势和方向,展望测试系统的新的形态和技术发展趋势。分析了工业4.0时代可能影响测试系统发展的技术和方向,主要包括网络技术、通信技术、人工智能、产业形态、软件技术和当前时代背景下的国产化需求。结合工业4.0时代的技术特点提出了在此工业背景影响下的复杂机电系统的自动测试系统的构建形态,给出了新形态的测试系统组成架构,介绍了系统各部分组成、原理和技术需求,提出一种特定工业化背景下的新的自动测试系统的形态和系统构建方法,供从事测试系统设计及测试技术研究的人员参考借鉴。
二、通信测试技术发展趋势（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、通信测试技术发展趋势（论文提纲范文）
（1）我国小卫星综合测试技术发展与展望（论文提纲范文）
| 1 小卫星综合测试技术发展回顾 |
| 1.1 综合测试系统通用化 |
| 1.2 自动化测试 |
| 1.3 初级智能化测试 |
| 2 小卫星综合测试技术发展现状 |
| 2.1 系统层面 |
| (1)形成了小卫星综合测试技术标准和规范。 |
| (2)建立了多级分布式的自动化测试系统架构。 |
| 2.2 计算机技术 |
| (1)测试数据库技术得到了广泛应用。 |
| (2)实现了智能批量测试技术。 |
| (3)模板总线技术有效提升了测试系统集成化程度。 |
| 2.3 专项测试技术 |
| (1)远程测试技术成为小卫星发射场测试中的重要手段。 |
| (2)基于星载测试的快速地面测试技术是小卫星综合测试的一种尝试。 |
| (3)仿真测试技术的应用。 |
| 3 小卫星综合测试技术展望 |
| 3.1 系统层面 |
| (1)应用差异化的测试模式。 |
| (2)开展大规模批量化生产测试技术研究。 |
| 3.2 计算机技术 |
| (1)以“无人化测试”为目标，提升综合测试智能化水平。 |
| (2)开展有效载荷自动化测试技术研究。 |
| 3.3 专项技术 |
| (1)加强可测试性设计，提高综合测试有效性。 |
| (2)广泛应用远程测试技术，实现常态化多地协同测试。 |
| (3)利用数字卫星提升虚拟测试能力，为实物卫星测试提供有力辅助。 |
| 4 结束语 |
（2）电力物联网边缘物联代理的一致性测试系统研究（论文提纲范文）
| 0 引言 |
| 1 边缘物联代理概述 |
| 2 一致性测试系统研究现状 |
| 2.1 一致性测试关键技术 |
| 2.1.1 一致性测试流程 |
| 2.1.2 一致性测试方法 |
| 2.2 一致性测试发展现状 |
| 3 面向边缘物联代理的一致性测试技术应用 |
| 3.1 考虑多设备接入的一致性测试系统框架 |
| 3.2 基于边缘计算的一致性测试方法 |
| 3.3 计及区域自治的一致性测试流程 |
| 4 面向边缘物联代理的一致性测试技术发展趋势 |
| 1)可信接入场景下安全测试。 |
| 2)精确传输场景下详细测试。 |
| 3)故障定位场景下优化测试。 |
| 5 结语 |
（3）通用化单元测试设备的设计与实现（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 1 绪论 |
| 1.1 课题来源、研究背景及意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 国外研究现状 |
| 1.2.2 国内研究现状 |
| 1.3 自动化测试技术发展趋势 |
| 1.4 本文主要内容及章节安排 |
| 2 通用化单元测试设备整体方案设计 |
| 2.1 通用化单元测试设备功能概述 |
| 2.2 通用化单元测试技术指标 |
| 2.2.1 地面单元测试台技术指标 |
| 2.2.2 电源负载测试台技术指标 |
| 2.3 整体方案设计 |
| 2.4 PXI总线接口技术 |
| 2.5 STM32 简介 |
| 2.6 本章小结 |
| 3 标准化通信协议设计 |
| 3.1 上位机与PXI总线通信协议 |
| 3.2 各板卡卡地址分配 |
| 3.3 返回帧 |
| 3.4 本章小结 |
| 4 地面单元测试台模块化方案设计 |
| 4.1 指令信号模块化电路设计 |
| 4.1.1 不带电指令信号输出电路及自检电路设计 |
| 4.1.2 带电指令信号输出电路及自检电路设计 |
| 4.2 数字量信号模块化电路设计 |
| 4.2.1 RS-422 同步通信模块接口电路设计 |
| 4.2.2 UART数字量通讯接口电路设计 |
| 4.3 数字量信号传输逻辑设计 |
| 4.3.1 RS-422 接口通讯协议 |
| 4.3.2 UART接口通讯协议 |
| 4.4 位帧同步解调模块设计 |
| 4.4.1 PCM脉冲编码调制原理简介 |
| 4.4.2 PCM的各种码型 |
| 4.4.3 PCM码解调模块逻辑设计 |
| 4.5 1553B通信功能卡设计 |
| 4.5.1 MIL-STD-1553B传输协议简介 |
| 4.5.2 1553B通信功能卡接口电路设计 |
| 4.6 本章小结 |
| 5 电源负载台功能模块化方案设计 |
| 5.1 AC-DC电源总模块 |
| 5.1.1 供电电路设计 |
| 5.1.2 开关控制电路 |
| 5.1.3 电流采集电路设计 |
| 5.2 负载功能模拟模块 |
| 5.3 电量参数采集模块 |
| 5.4 自检功能模块 |
| 5.5 RS-422 通信功能模块 |
| 5.6 主控单元功能模块 |
| 5.6.1 主控MCU |
| 5.6.2 最小系统电路设计 |
| 5.7 本章小结 |
| 6 设备整机测试与分析 |
| 6.1 测试平台的搭建 |
| 6.2 地面单元测试台性能测试 |
| 6.2.1 带电指令输出电流测试 |
| 6.2.2 数据完整性验证 |
| 6.3 电源负载测试台精度测试 |
| 6.4 本章小结 |
| 7 总结与展望 |
| 7.1 总结 |
| 7.2 展望 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及所取得的研究成果 |
| 致谢 |
（4）LTE核心网协议安全缺陷检测技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 LTE网络安全研究现状 |
| 1.2.2 模糊测试研究现状 |
| 1.3 主要研究内容 |
| 1.4 论文结构安排 |
| 第二章 相关技术概述 |
| 2.1 LTE概述 |
| 2.2 GTPv2协议概述 |
| 2.3 Diameter协议概述 |
| 2.4 模糊测试技术概述 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 LTE核心网协议安全缺陷检测策略 |
| 3.1 基于字段筛选策略实现协议安全缺陷的快速检测 |
| 3.1.1 拟解决关键科学问题 |
| 3.1.2 传统策略 |
| 3.1.3 字段筛选策略 |
| 3.2 基于数据包修复策略实现协议安全检测的高效性 |
| 3.2.1 拟解决关键科学问题 |
| 3.2.2 传统策略 |
| 3.2.3 数据包修复策略 |
| 3.3 基于协议状态机全状态遍历策略实现协议安全检测的高效性 |
| 3.3.1 拟解决关键科学问题 |
| 3.3.2 传统策略 |
| 3.3.3 协议全状态遍历策略 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 LTE核心网协议安全缺陷检测系统设计与实现 |
| 4.1 系统需求分析 |
| 4.2 系统总体设计 |
| 4.3 系统各个子模块设计与实现 |
| 4.3.1 连接模块 |
| 4.3.2 数据包发送模块 |
| 4.3.3 字段筛选模块 |
| 4.3.4 测试样例生成模块 |
| 4.3.5 数据包修复模块 |
| 4.3.6 状态转移模块 |
| 4.3.7 监视模块 |
| 4.3.8 日志模块 |
| 4.3.9 覆盖率统计模块 |
| 4.3.10 漏洞复现模块 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 实验结果统计与分析 |
| 5.1 实验环境介绍 |
| 5.2 实验结果统计与分析 |
| 5.2.1 协议安全性检测结果 |
| 5.2.2 字段筛选策略结果统计与分析 |
| 5.2.3 数据包修复策略结果统计与分析 |
| 5.2.4 状态转移策略结果统计与分析 |
| 5.3 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 总结 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 |
（5）面向嵌入式设备的自动化漏洞挖掘关键技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 选题背景与研究意义 |
| 1.2 国内外发展现状 |
| 1.2.1 二进制代码插桩技术 |
| 1.2.2 传统模糊测试技术 |
| 1.2.3 面向嵌入式设备的漏洞挖掘技术 |
| 1.3 现有研究工作存在的不足 |
| 1.4 本论文研究内容与主要贡献 |
| 1.5 论文结构 |
| 第二章 基于ptrace和静态分析的固件动态插桩技术 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 基于ptrace插桩的基本思路 |
| 2.3 基于ptrace和静态分析的插粧技术 |
| 2.3.1 固件代码提取 |
| 2.3.2 代码静态分析 |
| 2.3.3 插桩分析 |
| 2.3.4 插桩操作 |
| 2.3.5 动态分析控制 |
| 2.4 实验评估 |
| 2.4.1 插桩效率测试 |
| 2.4.2 插桩有效性测试 |
| 2.5 局限和不足 |
| 2.6 本章小结 |
| 第三章 基于上下文维护代码分离的固件静态插桩技术 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 基于上下文维护代码分离的固件静态插桩技术 |
| 3.2.1 固件静态分析 |
| 3.2.2 基于上下文维护代码分离的插桩逻辑生成 |
| 3.2.3 固件二进制代码重写 |
| 3.3 实验评估 |
| 3.3.1 插桩导致的文件膨胀 |
| 3.3.2 不同类型插桩点的时间消耗 |
| 3.3.3 在实际软件上进行插桩的时间消耗 |
| 3.3.4 插桩嵌入式设备固件造成的影响 |
| 3.4 局限和不足 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 基于烟花算法的覆盖率导向型模糊测试技术 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 基于烟花算法的覆盖率导向型模糊测试 |
| 4.2.1 代码静态分析 |
| 4.2.2 基于边覆盖状态收集的代码插桩 |
| 4.2.3 边覆盖状态分析 |
| 4.2.4 基于烟花算法的测试过程调度 |
| 4.3 实验评估 |
| 4.3.1 传统桌面程序测试 |
| 4.3.2 嵌入式设备测试 |
| 4.4 局限与不足 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 基于粒子群优化的目标导向型模糊测试技术 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 粒子群优化和模糊测试 |
| 5.2.1 粒子群优化原理 |
| 5.2.2 模糊测试与粒子群优化的关系 |
| 5.3 基于粒子群优化的目标导向型模糊测试技术 |
| 5.3.1 样本和目标点距离的度量 |
| 5.3.2 模糊测试到粒子群的映射 |
| 5.3.3 基于格式约束的样本标准化 |
| 5.3.4 基于粒子群优化的样本生成算法 |
| 5.4 实验评估 |
| 5.4.1 实验准备 |
| 5.4.2 样本生成效率 |
| 5.4.3 漏洞触发能力 |
| 5.4.4 对嵌入式设备测试的有效性 |
| 5.5 局限与不足 |
| 5.6 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 总结 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 |
| 攻读学位期间参与科研项目目录 |
| 获奖情况 |
（6）一种通信装备Built-In Test技术研究与实现（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 |
| 1.2.1 机内测试技术研究现状 |
| 1.2.2 边界扫描测试技术研究现状 |
| 1.3 主要研究内容与章节安排 |
| 第二章 通信装备的测试性模型 |
| 2.1 测试性分配概述 |
| 2.1.1 测试性分配的目的与内容 |
| 2.1.2 测试性分配的原则 |
| 2.2 基于故障检测与隔离要求的测试性分配方法 |
| 2.2.1 等值分配法 |
| 2.2.2 按故障率分配法 |
| 2.2.3 综合加权分配法 |
| 2.3 非线性综合加权分配法 |
| 2.3.1 综合影响系数的非线性模型 |
| 2.3.2 指标分配值的非线性模型 |
| 2.4 通信装备的测试性模型 |
| 2.4.1 通信装备系统结构 |
| 2.4.2 通信装备的测试性分配 |
| 2.4.3 一种通信装备的BIT技术指标 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 机内测试系统硬件平台设计 |
| 3.1 机内测试系统总体架构设计 |
| 3.1.1 通信装备BIT结构设计 |
| 3.1.2 通信装备BIT硬件平台设计方案 |
| 3.2 通信装备BIT主系统设计方案 |
| 3.2.1 通信装备BIT主系统的功能结构 |
| 3.2.2 通信装备BIT主系统数据传输方案 |
| 3.2.3 通信装备BIT主系统逻辑结构设计 |
| 3.3 模拟BIT模块设计 |
| 3.3.1 模拟BIT硬件电路设计 |
| 3.3.2 模拟BIT中FPGA逻辑电路设计 |
| 3.3.3 模拟BIT资源消耗分析 |
| 3.4 射频BIT模块设计 |
| 3.4.1 射频BIT硬件电路设计 |
| 3.4.2 射频BIT中 FPGA逻辑电路设计 |
| 3.4.3 射频BIT资源消耗分析 |
| 3.5 中频BIT模块设计 |
| 3.5.1 中频BIT硬件电路设计 |
| 3.5.2 中频BIT中FPGA逻辑电路设计 |
| 3.5.3 中频BIT资源消耗分析 |
| 3.6 本章小结 |
| 第四章 基于IEEE1149.1的数字BIT设计 |
| 4.1 边界扫描测试的基本原理 |
| 4.1.1 JTAG接口和TAP状态控制器 |
| 4.1.2 指令寄存器和测试指令集 |
| 4.1.3 数据寄存器和边界扫描单元 |
| 4.2 数字BIT硬件电路设计 |
| 4.3 数字BIT中FPGA逻辑电路设计 |
| 4.3.1 数字BIT命令帧结构 |
| 4.3.2 TMS信号的生成逻辑 |
| 4.3.3 TDI输出逻辑与TDO接收逻辑 |
| 4.4 数字BIT资源消耗分析 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 测试与验证 |
| 5.1 测试与验证环境介绍 |
| 5.2 各分系统BIT测试功能验证 |
| 5.2.1 射频BIT测试 |
| 5.2.2 中频BIT测试 |
| 5.2.3 数字BIT测试 |
| 5.2.4 模拟BIT测试 |
| 5.3 各分系统BIT功耗测试 |
| 5.4 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
（7）基于机器学习模型的智能变电站自动测试方案及智能分析应用研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 1 绪论 |
| 1.1 研究背景及意义 |
| 1.2 智能变电站及其调试技术发展现状 |
| 1.2.1 变电站的发展 |
| 1.2.2 智能变电站调试技术发展现状 |
| 1.3 就地化智能设备发展现状 |
| 1.4 本文主要工作 |
| 2 智能变电站就地化保护技术基础知识 |
| 2.1 智能变电站概述 |
| 2.2 智能变电站的通信标准 |
| 2.3 智能变电站的二次系统架构 |
| 2.3.1 二次系统结构“三层” |
| 2.3.2 二次系统结构“两网” |
| 2.4 就地化保护 |
| 2.4.1 就地化保护概述 |
| 2.4.2 就地化综合智能设备 |
| 2.5 本章小结 |
| 3 工厂化自动测试平台设计及应用实例 |
| 3.1 线路保护工作原理 |
| 3.1.1 纵联电流差动保护 |
| 3.1.2 PT断线时零序与相过流保护 |
| 3.2 工厂化测试平台方案设计 |
| 3.2.1 工厂化测试整体分析 |
| 3.2.2 工厂化测试平台结构 |
| 3.2.3 工厂化测试平台的外部接口 |
| 3.3 自动化继电保护测试仪应用实例 |
| 3.3.1 软件界面布局及工具栏功能 |
| 3.3.2 配置模板及设置参数检查 |
| 3.4 本章小结 |
| 4 基于XGBoost的自动测试结果智能分析应用研究 |
| 4.1 XGBoost算法原理概述 |
| 4.1.1 分类和回归树(CART) |
| 4.1.2 XGBoost算法原理 |
| 4.2 线路保护相关参数的选择 |
| 4.2.1 线路保护的一般规定 |
| 4.2.2 单一保护逻辑下的训练样本输入参数 |
| 4.2.3 多个保护逻辑下的训练样本输入参数 |
| 4.2.4 定义训练样本输出参数 |
| 4.3 XGBoost模型搭建及训练测试 |
| 4.3.1 参数调优训练 |
| 4.3.2 数据测试及结果分析 |
| 4.4 本章小结 |
| 5 基于LightGBM的自动测试结果智能分析及优化 |
| 5.1 LightGBM算法原理概述 |
| 5.1.1 梯度提升决策树(GBDT) |
| 5.1.2 LightGBM算法原理 |
| 5.2 LightGBM模型搭建及训练测试 |
| 5.2.1 参数调优训练 |
| 5.2.2 数据测试及结果分析 |
| 5.3 两种模型实验结果的对比分析 |
| 5.4 基于Grid Search的 LightGBM算法优化 |
| 5.4.1 Grid Search原理简介 |
| 5.4.2 参数调优及结果分析 |
| 5.5 本章小结 |
| 6 总结与展望 |
| 参考文献 |
| 附录A XGboost算法训练程序 |
| 附录B LightGBM算法训练程序 |
| 附录C Grid Search智能调参程序 |
| 致谢 |
（8）继电保护功能自动化测试系统数据库设计与应用（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究背景及意义 |
| 1.2 继电保护测试发展与现状 |
| 1.3 数据库的发展及现状 |
| 1.4 主要研究内容 |
| 第二章 继电保护功能自动测试系统 |
| 2.1 自动化测试相关概念 |
| 2.1.1 黑盒测试 |
| 2.1.2 测试对象 |
| 2.1.3 测试模板 |
| 2.1.4 测试用例 |
| 2.1.5 接口配置映射 |
| 2.2 ATS的硬件连接 |
| 2.3 系统软件架构 |
| 2.3.1 ATS数据库 |
| 2.3.2 测试编辑器 |
| 2.3.3 测试执行软件 |
| 2.3.4 测试引擎软件 |
| 2.3.5 ATS网页服务器 |
| 2.4 测试结果评估 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 ATS数据库系统设计 |
| 3.1 数据库概述 |
| 3.1.1 数据库系统 |
| 3.1.2 数据库系统的基本要求 |
| 3.1.3 关系型数据库 |
| 3.1.4 数据库设计的基本步骤 |
| 3.2 数据库需求分析 |
| 3.3 数据库概念结构设计 |
| 3.3.1 概念模型 |
| 3.3.2 概念结构设计的方法 |
| 3.3.3 E-R图设计 |
| 3.4 数据库逻辑结构设计 |
| 3.4.1 范式(Normal Form) |
| 3.4.2 概念模型向关系模型的转换原则 |
| 3.4.3 关系模型的转化 |
| 3.5 数据库物理设计 |
| 3.5.1 物理设计的目的 |
| 3.5.2 数据库创建 |
| 3.5.3 数据库物理表创建 |
| 3.5.4 存储过程 |
| 3.6 本章小结 |
| 第四章 系统实现与应用 |
| 4.1 系统实现 |
| 4.1.1 测试数据管理模块实现 |
| 4.1.2 测试项目管理模块实现 |
| 4.1.3 测试执行模块实现 |
| 4.2 自动测试系统应用实例 |
| 4.2.1 过流保护动作值和返回比率测试 |
| 4.2.2 零序电流测量精度测试 |
| 4.3 数据库的维护 |
| 4.4 本章小结 |
| 总结 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 在学期间主要研究成果 |
| 附录 |
| 附录一 :数据库其余数据表 |
| 附录二 :添加测试表集群存储过程SQL代码 |
| 附录三 :过流保护动作值和返回比率测试报告 |
| 附录四 :零序电流测量精度测试报告 |
（9）基于ATE的SoC芯片测试系统开发与应用（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 缩略词表 |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题的背景与意义 |
| 1.2 SoC芯片的制造与测试 |
| 1.2.1 芯片的制造过程 |
| 1.2.2 芯片测试的意义和成本 |
| 1.2.3 芯片测试的分类 |
| 1.3 基于ATE测试的国内外研究发展与现状 |
| 1.3.1 国外ATE发展状况 |
| 1.3.2 国内ATE发展状况 |
| 1.4 本论文的结构安排 |
| 第二章 待测SoC芯片的结构及特点 |
| 2.1 芯片简介 |
| 2.1.1 主要技术指标 |
| 2.1.2 芯片封装 |
| 2.2 模块功能描述 |
| 2.2.1 CPU处理器 |
| 2.2.2 PMC功耗管理模块 |
| 2.2.3 NFC接口模块 |
| 2.2.4 SDC接口模块 |
| 2.2.5 GPIO模块 |
| 2.2.6 UART模块 |
| 2.2.7 SPI模块 |
| 2.2.8 智能卡接口(SCI) |
| 2.2.9 SCD接口模块 |
| 2.2.10 EMC模块 |
| 2.3 本章小结 |
| 第三章 ATE测试系统分析与工程开发 |
| 3.1 ATE测试系统分析 |
| 3.1.1 ATE的硬件模块分析 |
| 3.1.2 ATE的软件模块分析 |
| 3.1.3 ATE测试的优点及目的 |
| 3.2 ATE测试系统开发 |
| 3.2.1 测试板设计 |
| 3.2.2 测试向量的转化 |
| 3.2.3 测试程序开发 |
| 3.2.4 测试程序优化 |
| 3.3 DUT的ATE程序设计 |
| 3.3.1 仿真文件转码 |
| 3.3.2 建立测试程序 |
| 3.3.3 测试程序调试 |
| 3.3.4 ATE自定义测试 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 基于ATE的SoC测试设计 |
| 4.1 测试环境要求 |
| 4.2 参数模块 |
| 4.2.1 工作电压 |
| 4.2.2 静态功耗 |
| 4.2.3 动态功耗 |
| 4.3 接口模块 |
| 4.3.1 NFC模块 |
| 4.3.2 SDC模块 |
| 4.3.3 SPI模块 |
| 4.3.4 GPIO模块 |
| 4.3.5 UART模块 |
| 4.3.6 SCI模块 |
| 4.3.7 SRAM功能 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 测试实现与测试结果 |
| 5.1 测试实现 |
| 5.2 测试优化 |
| 5.3 测试结果及分析 |
| 5.3.1 +25℃下接口功能三压测试 |
| 5.3.2 -40℃下接口功能三压测试 |
| 5.3.3 +85℃下接口功能三压测试 |
| 5.3.4 动、静态功耗测试 |
| 5.3.5 结果对比与总结 |
| 5.4 本章小结 |
| 第六章 全文总结与展望 |
| 6.1 全文总结 |
| 6.2 后续工作展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 |
（10）工业4.0条件下的测试系统（论文提纲范文）
| 1 自动测试系统与工业技术的发展 |
| 2 工业4.0背景下的测试系统的技术特征和实现基础 |
| 2.1 技术特征 |
| 2.1.1 形散而神不散 |
| 2.1.2 模块化、通用化、智能化、信息化、标准化 |
| 2.1.3 融合于大工业环境，信息互联物联 |
| 2.2 测试系统发展的技术基础 |
| 2.2.1 通信技术 |
| 2.2.2 电源技术 |
| 2.2.3 高速AD及数字信号处理技术 |
| 2.2.4 软件技术 |
| 3 工业4.0条件下的测试系统形态及构建 |
| 3.1 基于复合总线的系统架构 |
| 3.2 数据通道 |
| 3.3 数据处理中心 |
| 3.4 智能前端 |
| 3.5 能源中心 |
| 4 国产化跨平台软件系统设计 |
| 5 结束语 |
四、通信测试技术发展趋势（论文参考文献）
- [1]我国小卫星综合测试技术发展与展望[J]. 戴涧峰,陈逢田,李培华,王志勇,陆文高,李立. 航天器工程, 2021(06)
- [2]电力物联网边缘物联代理的一致性测试系统研究[J]. 马润,王圣杰,华荣锦,哈欣楠,温兴贤,孙毅,谷家训. 电力信息与通信技术, 2021(10)
- [3]通用化单元测试设备的设计与实现[D]. 樊瑞瑞. 中北大学, 2021(09)
- [4]LTE核心网协议安全缺陷检测技术研究[D]. 王国斌. 北京邮电大学, 2021(01)
- [5]面向嵌入式设备的自动化漏洞挖掘关键技术研究[D]. 陈晨. 北京邮电大学, 2021(01)
- [6]一种通信装备Built-In Test技术研究与实现[D]. 张玮琦. 电子科技大学, 2021(01)
- [7]基于机器学习模型的智能变电站自动测试方案及智能分析应用研究[D]. 邢润国. 西华大学, 2021(02)
- [8]继电保护功能自动化测试系统数据库设计与应用[D]. 陈桂棠. 厦门理工学院, 2021(06)
- [9]基于ATE的SoC芯片测试系统开发与应用[D]. 刘安康. 电子科技大学, 2021(01)
- [10]工业4.0条件下的测试系统[J]. 徐景辉,徐慧庆,谢天乐,万凯. 测控技术, 2021(05)